^Вверх

foto1 foto2 foto3 foto4 foto5


Спектрометры и рефлектометры

Терагерцовые компоненты

Генераторы

Фотопроводящие антенны

Оптические элементы

Спектрометры

По заказу потребителя возможны реализации спектрометров следующих типов:

  • проходной
  • отражательный
  • на основе интерферометра Маха-Цандера

Спектрометр проходного типа

Спектрометр отражательного типа

Спектрометр Маха-Цандера

Технические характеристики:

  • Рабочий диапазон частот: 36-1430 ГГц.
  • Разрешение по частоте не хуже 10-4.
  • Динамический диапазон 10+4—10+5 при использовании ОАП.
  • Динамический диапазон 10+6---10+7 при использовании охлаждаемого приемника.
  • Степень поляризации излучения- 99.99%.
  • Время записи спектров пропускания и отражения из 100 точек: 10-20 сек.
  • Время записи спектров фазового сдвига из 100 точек: 40-50 сек.
  • Погрешность измерения коэффициента отражения: <+-0.5%.
  • Погрешность измерения коэффициента пропускания слабо поглощающих образцов: <+-0.5%.
  • Погрешность измерения фазового сдвига прошедшей волны для слабо   поглощающих  образцов: <+-0.5 гр.

Все спектрометры комплектуются программным обеспечением, позволяющим автоматизировать сбор и анализ данных.

 

Модель Диапазон частот, ГГц
Спектрометр терагерцовый Tscan-180C 100-180
Спектрометр терагерцовый Tscan-350C 100-350
Спектрометр терагерцовый Tscan-500C 100-500
Спектрометр терагерцовый Tscan-1000C 100-1000
Спектрометр терагерцовый Tscan-1500C-Ex 100-1430

Кроме указанного выше модельного ряда, возможна поставка спектрометров по заказу клиента. Клиент может выбрать тип спектрометра, частотные диапазоны, а также множество особых условий поставки.
 
Квазиоптическая система

Комплект включает в себя:

  • Генератор на лавинно-пролетном диоде – длина волны 2 мм (140 ГГц)
  • Пироэлектрический детектор с рупором
  • Электронный источник питания с синхронным детектированием и интерфейсом USB 1.1
  • Поляризационные решетки
  • Аттенюатор четырехступенчатый (1, 3, 10, 30%)
  • Интерферометр Фабри-Перо, разрешение 120 МГц
  • Пленочная дифракционная решетка, устройство для измерения распределения интенсивности по углу
  • Линзы, поглощающие экраны, пластинки переменной толщины.

Система может быть использована для измерений отражения и пропускания, определения диэлектрических параметров веществ, толщины образцов, поиска скрытых дефектов, а так же для учебных целей.